KLA Zeta™-388光學輪廓儀是一款非接觸式三維(3D)表面地貌測量系統。KLA Zeta™-388光學輪廓儀基于Zeta-300的功能，增加了用于全自動測量的機械手臂操作系統。該系統由ZDot技術及多模式光學組件提供支持，可支持各種樣品測量：透明和不透明、低至高反射率及各種粗糙程度的紋理，以及從納米到毫米范圍的臺階高度。

Zeta-388光學輪廓儀集成了六種不同的光學量測技術，構建出一款可靈活配置且易于使用的系統。ZDot測量模式同時收集高分辨率的3D掃描信息和樣品表面真彩色圖像。其他3D測量技術包括白光干涉測量法、諾馬斯基光干涉對比顯微法和剪切干涉測量法，膜厚測量包含使用ZDot模式測量和光譜反射的測量方法。Zeta-388也是一款專業顯微鏡，可用于抽樣檢查或缺陷自動檢測。Zeta-388通過提供全面的臺階高度、粗糙度和薄膜厚度測量、缺陷檢測功能和機械手臂操作系統來支持研發和生產環境。

特征

• 采用ZDot及多模式光學技術且便于使用的光學輪廓儀，可應對各種各樣的應用程序

• 用于抽樣檢查和缺陷檢測的高質量顯微鏡

• ZDot：同時收集高分辨率的三維(3D)掃描及真彩色無限聚焦圖像

• ZXI：采用縱向高分辨率的廣域測量白光干涉儀

• ZIC：圖像對比度增強，可實現亞納米級粗糙度表面的定量分析

• ZSI：縱向高分辨率圖像的剪切干涉術

• ZFT：通過集成式寬頻反射測量法測量薄膜厚度和反射率

• AOI：自動光學檢測，可量化樣本缺陷

• 生產能力：具有多點量測和圖形識別功能的全自動測量

• 機械手臂操作系統：自動加載直徑為50毫米到200毫米的不透明（例如硅）和透明（例如藍寶石）樣品

應用

• 臺階高度：從納米到毫米的3D臺階高度

• 表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波紋度測試

• 翹曲：2D或3D翹曲

• 應力：2D或3D薄膜應力

• 薄膜厚度：透明薄膜厚度從30nm至100µm不等

• 缺陷檢測：捕獲大于1µm的缺陷

• 缺陷審查：KLARF文件可用于尋找缺陷，以確定劃痕缺陷位置，測量缺陷3D表面形貌

工業

• 無線通訊器件(SAW/BAW/FBAR)

• 發光二極管(LED)：發光二極管和PSS（圖形化的藍寶石襯底）

• 半導體和化合物半導體

• 半導體WLCSP（晶圓級芯片封裝）

• 半導體FOWLP（扇出晶圓級封裝）

• PCB（印刷電路板）和柔性電路板

• MEMS:微機電系統

• 醫療器械和微流體元件